M Report
อีเวนต์อื่นๆ

คุณภาพต้องมาก่อน!! จองด่วน “ตรวจสอบคุณภาพได้เร็วขึ้นด้วย CT / X-ray” จัดโดย ZEISS วันที่ 4 ส.ค. 65 นี้ ฟรี จำนวนจำกัด

อัปเดตล่าสุด 4 ก.ค. 2565
  • Share :
  • 1,520 Reads   

ฟรี!! สัมมนาออนไลน์  “ตรวจสอบคุณภาพได้เร็วขึ้นด้วย CT / X-ray” เข้มข้น เจาะลึก เปรียบเทียบข้อดีข้อเสีย โดยผู้เชี่ยวชาญจาก ZEISS วันพฤหัสบดีที่ 4 สิงหาคม 2565 เวลา 15.00 น. จองสิทธิก่อนเต็ม จำนวนจำกัด 

ปัจจุบัน การตรวจสอบคุณภาพชิ้นงานมีแต่จะทวีความสำคัญมากยิ่งขึ้น โดยเฉพาะอย่างยิ่งในการผลิตยุคใหม่ที่ต้องการความแม่นยำและมาตรฐานที่สูงกว่าที่ผ่านมา

การตรวจเอ็กซ์เรย์ด้วยคอมพิวเตอร์ หรือ Computerized Tomography (CT) Scan มาพร้อมความสามารถเฉพาะตัวด้วยระบบการวัดที่หลากหลายและทำได้อย่างรวดเร็ว แม้กระทั่งในจุดที่ไม่สามารถเข้าถึงได้ อีกทั้งยังไม่ก่อให้เกิดความเสียหายขณะวัด โดยทั้งผู้ใช้หรือแม้กระทั่งกฎเกณฑ์ต่าง ๆ ล้วนกำหนดให้ต้องตรวจสอบ 100% เป็นเบื้องต้น นอกจากนั้นเกณฑ์การวัดและจำนวนจุดที่จะวัดก็มักเพิ่มขึ้นเรื่อย ๆ

ด้วยเทคโนโลยี X-ray CT การวัดเป็นแบทช์จะกลายเป็นค่าเริ่มต้นใหม่ได้อย่างรวดเร็วเมื่อตรวจสอบชิ้นส่วน  โดยการสัมมนาออนไลน์ที่จัดขึ้นครั้งนี้ จะแสดงให้เห็นวิธีการทำงานของจรวจสอบคุณภาพด้วย CT / X-ray และเรื่องอื่น ๆ ที่ควรพิจารณา ก่อนนำเทคโนโลยีนี้มาใช้ในห้องปฏิบัติการคุณภาพของคุณ

ZEISS เชิญผู้เชี่ยวชาญมาเล่าเรื่องการตรวจวัดชิ้นงาน เจาะลึกเทคโนโลยี X-ray CT และเปรียบเทียบข้อดีข้อเสียของการวัดทุกระบบ ไปจนถึงกรณีศึกษาที่น่าสนใจ พร้อมไขประเด็นคำถามสุดฮิตกับสัมมนาออนไลน์หัวข้อ “ตรวจสอบคุณภาพได้เร็วขึ้นด้วย CT / X-ray” วันพฤหัสบดีที่ 4 สิงหาคม 2565 เวลา 15.00 น. สนใจคลิกจองสิทธิตอนนี้ **สิทธิฟรี จำนวนจำกัด**

ไฮไลต์ภายในสัมมนาออนไลน์

  • ตรวจสอบชิ้นส่วนได้อย่างรวดเร็วด้วยการตรวจสอบแบบแบทช์
  • ข้อดีและข้อเสียของการใช้ระบบการวัดต่าง ๆ เพื่อตรวจสอบชิ้นส่วน
  • กรณีศึกษา: การเปรียบเทียบการวัดระหว่าง CT, เครื่องสแกน 3D, CMM และการตรวจสอบแบบออปติคัล
  • ประโยชน์ของ CT โดยใช้ ZEISS METROTOM 1
  • ถามและตอบในรายการทันทีกับผู้เชี่ยวชาญ ZEISS

ลงทะเบียนทันที จองสิทธิก่อนเต็ม ฟรี ไม่มีค่าใช้จ่าย คลิก

งานสัมมนาครั้งนี้ เหมาะสำหรับ

  • ผู้ผลิตชิ้นส่วน ผู้ใช้เครื่องมือวัด
  • ผู้ทำงานด้านการตรวจสอบคุณภาพ, QA, QC
  • ผู้ใช้เครื่อง CT / X-ray
  • ผู้ใช้เครื่องมือวัดระบบอื่น
  • ผู้จัดการโรงงาน / วิศวกรฝ่ายผลิต / ฝ่ายวางแผนการผลิต
  • เจ้าของธุรกิจ / ผู้มีอำนาจตัดสินใจ ที่ต้องการยกระดับประสิทธิภาพกระบวนการผลิตชิ้นส่วน

รับชมเทคโนโลยี X-ray ของ ZEISS METROTOM 1

สนใจรายละเอียดเพิ่มเติม ZEISS METROTOM 1 คลิก

อบรมฟรี สัมมนาฟรี สัมมนาออนไลน์ ZEISS Metrology Webinar: ตรวจสอบคุณภาพได้เร็วขึ้นด้วย CT / X-ray  ในวันพฤหัสที่ 4 สิงหาคม 2565 | เวลา 15.00 น. ลงทะเบียน ฟรี จำกัดจำนวน คลิกเลย

 

สอบถามข้อมูลเพิ่มเติม 
บริษัท คาร์ล ไซส์ส จำกัด / Carl Zeiss Co., Ltd.

โทร. 02 248 8787
อีเมล: [email protected]
เว็บไซต์: zeiss.com.sg/metrology/home.html

โซเชียลมีเดีย:
Facebook: www.facebook.com/zeissiqssea
LINE: page.line.me/zeiss_iqs_th
LinkedIn: www.linkedin.com/company/zeiss-industrial-metrology